Un nou CD-ROM cu o colectie de standarde ISO pentru analiza chimica de suprafata
ISO a publicat o colectie de 41 de standarde internationale ISO si documente conexe referitoare la analiza chimica de suprafata, procedura folosita extensiv in multe tehnologii pentru aflarea proprietatilor si dezvoltarea de materiale si procese avansate.
Colectia este disponibila publicului interesat sub forma unui CD-ROM.
Aceasta colectie reuneste 34 de standarde, sase rapoarte tehnice si o specificatie tehnica, toate dezvoltate de catre comitetul ISO tehnic ISO / TC 201, Analiza chimica a suprafetelor.
Activitatea comitetului isi gaseste aplicare in domenii cum ar fi industria ceramica, metalurgia, polimerii, materialele compozite , materiale aderente, tribologia, uzura, coroziunea, substante de placare, materiale de implant, cataliza, microelectronica si supraconductorii.
Secretarul ISO / TC 201, dl. Hidehiko Nonaka, comenteaza:
“Se cunoaste faptul ca analiza chimica a suprafetelor constituie un puternic instrument cercetare si dezvoltare in multe domenii.
Cu toate acestea se impune aplicarea acesteia in mod corespunzator pentru a obtine rezultate corecte.
Acest nou CD ISO-ROM va ajuta utilizatorii de analize chimice de suprafata, oferind o multime de informatii esentiale cuprinse in standarde. “
CD-ul include noi standarde pentru urmatoarele tehnici analitice:
• Spectroscopie de electroni Auger (AES)
• Spectrometrie de descarcare Glow(GDS)
• Spectrometrie de masa cu ioni secundari (SIMS)
• Fluorescenta cu raze X prin reflexie totala (TXRF)
• Spectroscopie cu raze x a fotoelectronilor (XPS)
• Pulverizarea profilelor adanci prin tehnici specifice AES, SIMS, si XPS.
(dupa un articol ISo.org)